Адрес: Санкт-Петербург,
ул. Клиническая, д.6
Тел. +7 (812) 292-33-10
Версия для слабовидящих
Постоянные запросы
Авторизация RFID

 

RFID авторизация

Статья из сборника (однотомник)


     Трактография как новый метод изучения патогенеза и дифференциальной диагностики деменций / А. Ю. Емелин, В. А. Фокин, В. Ю. Лобзин [и др.]. - Текст : непосредственный // "Актуальные нейродегенеративные заболевания XXI века", российская научно-практическая конференция . Российская научно-практическая конференция "Актуальные нейродегенеративные заболевания XXI века" : материалы конф., 18-19 нояб.2010 г. - СПб., 2010. - С. 26-27.
(Шифр в БД Мд23/Р 763-293590)